老化試驗箱,適合于像膠、電子原器件、電子產(chǎn)品等各種產(chǎn)品的老化試驗的要求,具有可編程功能,可編制溫度、時間、升溫速率等程序,以極快的速度進行加熱老化試驗。
    微電腦程序控制溫度、時間及升溫速率，可預(yù)設(shè)排氣風(fēng)門開啟、閉合時間，以極快的速度進行加熱老化試驗。
    可預(yù)設(shè)15段30步可編程序，每段設(shè)置時間1～99小時99，循環(huán)風(fēng)機轉(zhuǎn)速可調(diào)。
    程序可調(diào)的風(fēng)門，箱內(nèi)循環(huán)轉(zhuǎn)速0～100%可調(diào)。
    當(dāng)老化試驗箱發(fā)生故障時，液晶顯示屏?xí)霈F(xiàn)故障信息，運行故障點一目了然。
    可連接打印機、485通訊接口或USB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移接口（U盤）用電腦和打印機記錄溫度和時間曲線，為試驗過程數(shù)據(jù)儲存與回放提供有力保證。
    獨立限溫報警系統(tǒng)，并聲光報警提示操作者，保證安全運行不發(fā)生意外。
    溫度偏高或偏低及超溫報警。